在芯片制造過程中，在芯片切割后的視覺定位及視覺測量是非常重要的，對于后續的封裝、測試等工序至關重要，因為只有芯片被精確定位，才能保證后續操作的準確性和可靠性。

　　康耐德芯片視覺檢測系統針對這方面主要有以下功能：

　　在視覺定位方面：

　　精確定位芯片位置：機器視覺系統能夠快速準確地找到切割后的芯片并確認其位置。

　　適應復雜形狀和變化：對于形狀不規則或在切割過程中發生變形的芯片，視覺定位系統可以通過模板匹配、邊緣檢測等，實現高精度定位。

　　提高生產效率：視覺定位系統可以一次性定位多個芯片，提高了生產效率，減少了生產時間。

　　在視覺測量方面：

　　測量芯片尺寸：視覺測量技術可以精確測量芯片的尺寸，包括長度、寬度、厚度等關鍵參數

　　檢測切割間隙和崩缺：在芯片切割后，視覺測量系統能夠檢測切割間隙是否符合要求，以及芯片是否存在崩缺等缺陷。

　　實現亞微米級精度：現代機器視覺測量技術能夠達到亞微米級的測量精度，滿足半導體行業對高精度測量的嚴格要求。

　　康耐德芯片視覺檢測系統在芯片切割后的視覺定位及視覺測量方面，對于提高生產效率、保證產品質量、降低生產成本等方面具有顯著優勢，是半導體制造過程中不可或缺的重要環節.